白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表明上进行亚纳米级测量的检验测试仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表明上进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面上的质量的2D、3D参数，以此来实现器件表面形貌3D测量的光学检验测试仪器。可在一个头上组合了4种成像模式。能够在同一测试平台上运行多种测试，只需单击按钮，就能转换成像模式。这种组合能轻松地对任何表明上进行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势，并且各项技术彼此互补。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析，也能够大大减少维护成本，来提升效率。

  白光干涉仪基础原理：是用于对各种精密器件表明上进行纳米级测量的仪器，它是以白光干涉技术为原理，光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜后分成两束，一束经被测表面反射回来，另外一束光经参考镜反射，两束反射光终汇聚并发生干涉，显微镜将被测表面的形貌特征转化为干涉条纹信号，经过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌。白光干涉仪技术特点：XY-stitching可以将大于单个视野的连续样本区域拼接成单次扫描；使用脚本简化复杂测量和工作流程分析的创建，实现了测量位置、调平、过滤和参数计算的灵活性；利用已知佳技术，从其他探针和光学轮廓仪转移算法。针对纳米级到毫米级特征的相位和垂直扫描干涉测量；SMART Acquire简化了采集模式并采用已知佳的程序设置的测量范围输入；Z-stitching干涉技术采集模式，可用于单次扫描以及编译多个纵向(z)距离很大的表面。文章整理自：，转载请标注明确出处！