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【48812】NanoFocus共聚集显微镜和白光干与仪的优劣势比照

时间: 2024-05-07 01:11:46 |   作者: 影像测量仪

  白光干与仪遍及应用在许多职业查验测验中,关于现代越来越杂乱的工艺检测,也是爱莫能助,德国NanoFocus AG研制的

  Z轴分辨率为1nm,没有白光干与仪高,可是丈量到亚微米及以上尺度时精度和白光干与根本相同。

  a)无法检测到峻峭视点——当运用干与仪丈量峻峭视点的目标时,因为干与图画会集在这些区域,无法精确的搜集信息。(一般倾角35°)

  检测到峻峭视点*大83°——共焦测距体系,它使用白光反射强度能够丈量有大视点特性的形状,而且不会有噪点形状。

  a)受外表反射率约束——假如外表反射度欠好,丈量是难以履行,因而,许多样品并不能丈量。假如反射光在参阅面和丈量面有巨大差异,那么样品也是不能丈量的。(反射率有必要大于4%的样品才干丈量)

  a)全反射率丈量——可吸收反射光规模广,简直对样品没有特别的条件,一般显微镜能够看的,就能够看。(反射率0%-100%都能丈量)

  假如参阅面的反射率为 100%,一起丈量面的反射率也约等于 100%,则会显现明晰的干与条纹。


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